大家好！

集成所第379期集成科学与技术系列学术讲座将于8月16日（周四）上午10:00~11:00在F栋6楼会议室召开。本次讲座特邀SunOptical Systems LLC的Gang Sun博士作题为“Recent Developments of Inline Metrology and Inspection Tools for Semiconductor Manufacturing”的学术报告。

会议由光电工程中心的李剑平副研究员主持，诚挚邀请大家准时参加、学习和交流！

讲座具体信息如下：